10-13 March 2026
Asia/Novosibirsk timezone

Исследование температурной зависимости параметров матриц SiPM для детектора FARICH

11 Mar 2026, 15:10
20m
Аудитория НГТУ (ИЯФ)

Аудитория НГТУ

ИЯФ

Устный Детекторы, методика эксперимента Детекторы, методика эксперимента

Speaker

Тимофей Углов (ВШЭ)

Description

В работе исследованы характеристики матриц кремниевых фотоумножителей (SiPM) KETEK PA3325-WB-0808 в температурном диапазоне от $-20$ до $+20$ $^\circ$C.
Проведены измерения разброса напряжений пробоя и коэффициентов усиления SiPM в пределах одной матрицы. Получены оценки вероятности оптической связи и частоты темнового счета в зависимости от температуры и перенапряжения. Также представлена консервативная оценка диапазона регулировки напряжения, необходимого для выравнивания коэффициентов усиления каналов. Разработанная методика позволяет проводить измерения в автоматическом режиме и может быть использована как для выборочного контроля характеристик при сборке детекторов, так и для исследования отдельных образцов при разработке электроники.

Primary author

Presentation Materials